Měření vzdáleností při 4 stupních Kelvina

V mikroskopii atomárních sil (AFM) se používají polohovací jednotky umožňující pohyb vzorků za účelem topografie povrchu. Snímací hlava mikroskopu musí při této činnosti být pomocí kapalného hélia zchlazena na teplotu čtyř stupňů Kelvina. K monitorování těchto polohovacích jednotek slouží kapacitní snímače polohy z řady capaNCDT 6300. Extrémně ploché provedení snímače umožňuje jeho použití v omezeném prostoru. Díky speciálním materiálům s velmi nízkými koeficienty tepelné roztažnosti snímač dosahuje přesnosti v řádu nanometrů.

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060