Jemná mechanika, optika

Požadavek ke stažení

Vady displejového skla

Naše společnost vyvinula speciální měřicí systém určený ke kontrole kvality displejového skla. Tabule skla je robotem položena na měřicí stůl, ...

Zobraziť podrobnosti

Měření tloušťky displejového a tabulového skla

Naše společnost vyvinula speciální měřicí systém určený ke kontrole kvality displejového skla. Tabule skla je robotem položena na měřicí stůl, ...

Zobraziť podrobnosti

Automatické navíjení kabelů ze skleněných vláken

Při automatickém navíjení kabelů ze skleněných vláken na bubny je nutné zajistit rovnoměrný a kompaktní návin. K monitorování ...

Zobraziť podrobnosti

Měření kontaktních čoček

Nové materiály pro výrobu kontaktních čoček musí absolvovat celou řadu náročných testů, při nichž je čočka umístěna do malého pouzdra ...

Zobraziť podrobnosti

Měření tloušťky matric

Při výrobě optických datových nosičů jsou data nejprve přenesena na tzv. master. V závislosti na počtu kopií se poté z tohoto masteru galvanizací ...

Zobraziť podrobnosti

Měření vzdáleností při 4 stupních Kelvina

V mikroskopii atomárních sil (AFM) se používají polohovací jednotky umožňující pohyb vzorků za účelem topografie povrchu. Snímací ...

Zobraziť podrobnosti

Bezkontaktní měření tloušťky vrstev

Měření tloušťky vrstev spadá do skupiny jednostranných bezkontaktních měření. U neprůhledných předmětů lze měřit pouze tloušťku ...

Zobraziť podrobnosti

Snímač posuvu pro nanopolohování

Piezoelektrické akční členy obvykle generují velmi malé statické a dynamické posuvy. Vysoce přesné snímače polohy zajišťují měření ...

Zobraziť podrobnosti

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060