Válcování kovu za studena

Systémy CONTROL MTS 820x a MTS 920x typu O-rám a C-rám přispívají ke zvýšení účinnosti a vyšší kvalitě výroby ve válcovnách za studena. Snímače jsou vybaveny samostatnou technologií laserové linie doprovázené ochrannými opatřeními, jako je ochrana proti špinavým čočkám nebo proti účinkům změn teploty při měření, což činí systémy vhodné pro použití v náročných okolních podmínkách.


Speciální funkce:

  • Měření nezávislá na material
  • Kalibrace v závislosti na na slitině není nutná
  • Vysoký sběr dat (až 256 000 datových bodů za vteřinu) umožňuje velmi výkonné zpracování signal
  • Měření geometrických parametrů a povrchových struktur (vnitřní a celková tloušťka rýhované desky)
  • Cennově efektivní náklady na servis
  • Intuitivní software HMI s ovládáním gesty na multidotykové obrazovce

Aplikace

ALUMINIUM NEUMAN

Typ systému:

C-rám thicknessCONTROL MTS 8202.LLT


Instalace:

Jeden C-rám je vertikálně integrován na lineární osu z obou stran. Čočky čidla jsou chráněny proti nečistotám z pneumatických zařízení.

Materiál:

  • Šířka: 235 mm
  • Tloušťka: 3 mm až 11 mm
  • Teplota materiálu: 90°C


Měření:

Oba systémy měří průřez. Systémy rozpoznávají okrajové polohy a přizpůsobují polohování pohybu plovoucího pásu a podle měnících se šířek.


Speciální funkce:

  • Iterativní kalibrace
  • Měření nezávislé na slitině
  • Kompenzace úhlu sklonu pomocí samostatné laserové linie

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060