Měření tloušťky při válcování kovů

Měření tloušťky je jedním z nejdůležitějších úkolů měření ve válcovnách. Série typu O-rám a C-rám CONTROL MTS 820x a MTS 920x nabízí společnost Micro-Epsilon vysoce přesné měřicí systémy. Na základě technologie laserové triangulace, která používá samostatnou laserovou linii, nabízí tyto systémy řadu výhod oproti alternativním technologiím měření.


Speciální funkce:

  • Měření nezávislá na material
  • Kalibrace v závislosti na na slitině není nutná
  • Odolnost pro drsné podmínky prostředí díky ochraně před emulzí, párou a vysokými teplotami
  • Velká vzdálenost snímače s vysokou přesností
  • Vysoké rozlišení umožňuje přesné rozpoznání hran
  • Flexibilní software a hardware umožňují snadnou integraci do válcovny

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060