Bezkontaktní měření tloušťky vrstev

Měření tloušťky vrstev spadá do skupiny jednostranných bezkontaktních měření. U neprůhledných předmětů lze měřit pouze tloušťku vrstvy elektrických izolátorů. Snímač fungující na principu vířivých proudů nicméně dokáže bez poškození proniknout izolační vrstvou a měřit vzdálenost k vrstvě, která je za ní. Druhý snímač, např. laserový snímač pracující na triangulačním principu, současně měří izolační vrstvu. Offsetováním obou signálů je určena tloušťka vrstvy. Tuto metodu měření pomocí dvou snímačů pracujících na různých principech společnost Micro-Epsilon označuje pojmem duální senzorika. Druhou možností je určení tloušťky vrstvy transparentních materiálů použitím technologie konfokálního měření. Vyzařované bílé světlo proniká měřeným předmětem a každou změnu materiálu indikuje špičkou v grafu signálů. Tímto způsobem lze snadno měřit například tloušťku skla v zrcadle.

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060