Prejdite priamo na hlavnú navigáciu Prejdite priamo na obsah

Nové produkty

The IMS5420 is a high-performance white light interferometer for non-contact thickness measurement of monocrystalline silicon wafers. The controller has a broadband superluminescent diode (SLED) with a wavelength range of 1,100 nm. This enables the thickness measurement of undoped, doped and highly doped SI wafers with only one measuring system. The IMS5420 achieves a signal stability of less than 1 nm. The thickness can be measured from a distance of 24 mm.

The new capacitive sensor system capaNCDT 6228 is designed for measurement tasks with ambient temperatures up to +800 °C. Up to four high-temperature sensors of the CSE/HT series can be connected simultaneously to the powerful controller. The integrated high-temperature sensor cable compensates for interference from electric or magnetic fields. Furthermore, the measured data is output both analog and digital via modern interfaces such as Ethernet and EtherCAT. 

 

Laserový snímač vzdálenosti optoNCDT ILR2250-100 je určen k přesnému měření vzdálenosti v průmyslovém prostředí. Pokud je k měřenému objektu připevněn reflektor, tak je možné měřit na vzdálenost až 150 m. Bez reflektoru zvládne senzor měřit až do 100 m. Integrovaný režim měření AUTO umožňuje spolehlivé měření i na tmavých, částečně reflexních a vzdálených objektech. Proto lze senzory ILR2250 použít pro měření vzdálenosti na mnoha površích.

The new optoNCDT ILR1171-125 laser distance sensor is used for distance measurements up to 270 m and particularly impresses in outdoor measurements. Due to the laser time-of-flight principle with infrared light and a measuring rate of up to 40 kHz, high energy pulses are achieved, allowing stable measurements with very good signal quality. In addition, this better compensates for interfering influences such as fog or rain. The high temperature stability allows applications at temperatures from -40 °C to +60 °C. Thanks to its compact dimensions, the sensor can also be integrated into the smallest installation spaces.

Nový interferometr IMS5400-DS otevírá nové perspektivy v průmyslovém měření vzdáleností. Kontrolér má inteligentní vyhodnocení a umožňuje absolutní měření s přesností v nanometrech s relativně velkou ofsetovou vzdáleností. Ve srovnání s jinými absolutně měřicími optickými systémy nabízí IMS5400-DS bezkonkurenční kombinaci přesnosti, rozsahu měření a ofsetové vzdálenosti.

The confocalDT IFD2415 and IFD2410 are powerful confocal sensors with integrated controller. The space-saving IP65-housing enables fast integration into plant equipment and machines as no optical fiber is required. Furthermore, the IFD2410 and 2415 are ideally suited to high precision distance and thickness measurements in industrial series applications. In addition, the IFD2415 can be used with transparent materials for multi-layer thickness measurements of up to 5 layers. The active exposure time regulation of the CCD line enables fast and stable measurements of varying surfaces even in dynamic processes up to 25 kHz. The measuring system is also characterized by high luminous intensity which enables fast and reliable measurements even on dark surfaces.

The compact confocal IFD2411 measuring system is a factory-calibrated measuring system for industrial series applications. As well as displacement and distance measurements, the system enables even thickness measurements of transparent materials. The IFD2411 confocal chromatic measuring system is a complete channel which contains a controller and an adapted sensor with measuring ranges of 1 mm, 2 mm, 3 mm and 6 mm. This measuring system is ideal for series applications.

Skenery scanCONTROL 3D se používají pro přesné inline 3D měření v nespočtu aplikací. Skeny se provádějí pohybem snímače nebo měřeného objektu. Díky své nízké hmotnosti jsou skenery ideální jak pro robotické aplikace, tak pro monitorování sériové produkce. Naše 3D skenery charakterizuje vysoká dynamika, absolutní přesnost a kompaktní velikost. Pro dosažení plného potenciálu tvorby a zpracování 3D obrazu používáme řadu profilových skenerů scanCONTROL 3000 či novou řadu scanCONTROL 3002. Micro-Epsilon nabízí rozsáhlé portfolio skenerů různých měřících rozsahů s technologií červeného či modrého laseru a obsáhlým výběrem příslušenství.

Laserové skenery scanCONTROL 3D jsou založeny na nejnovějších standardech  GigE Vision a GENICam, které umožňují integraci v širokém spektru prostředí pro zpracování obrazu. Výkonný software 3DInspect umožní parametrizování skeneru, vyhodnocení obrazu a výstup naměřených hodnot.

Snímač optoNCDT 1900 nabízí jedinečnou kombinaci rychlosti, velikosti, výkonu a tím je vhodný pro širokou škálu aplikací pro měření vzdáleností a polohy. Kompaktní laserový triangulační snímač dosahuje vysoké přesnosti měření se vzorkovací frekvencí až 10 kHz. Vysoce výkonná optika senzoru vytváří malý světelný bod, díky němuž lze spolehlivě detekovat i ty nejmenší detaily a struktury. 

The compact DTD inductive sensor system consists of a gauge with a plunger guided by a plain bearing and a controller, which are connected to each other with a 3 m long cable. The controller has a diameter of just 18 mm and the 3m-long cable enables flexible installation.

The DTD sensor system is based on an established LVDT measuring method. It impresses with outstanding precision and provides high signal stability and resolutions down to the micrometer range. Thanks to its high temperature stability, resistance to shock and vibration, and insensitivity to dirt, the induSENSOR DTD is ideal for industrial measurement tasks. Modern fieldbuses such as Ethernet, PROFINET or EtherCAT are supported via optionally available interface modules.