Průhledné vrstvy a nalepovací lemování

Pro jednostranné měření tloušťky transparetních vrstev se používají konfokální chromatické snímače confocalDT. Princip konfokálního měření umožňuje vyhodnocení několika špiček signálu, což umožňuje stanovit tloušťku průhledných materiálů. S každou změnou vrstvy se mění i index lomu a tím získáváme data o špičkách signálu. Snímače confocalDT spolehlivě měří tloušťku ochranných nátěrů a vrstev barev.

Odporúčaná technológia snímačov

Konfokálne snímače

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060