Měření tloušťky v extrudovacích linkách plochých fólií (tloušťka 30 μm až 6 mm)
Systémy řady FTS nabízejí měření tloušťky s extrémní stabilitou a přesností. Použití těchto systémů v extruzních linkách poskytuje spolehlivé výsledky měření s vysokou přesností a vytváří tak základ pro řízení výrobního procesu a dosaženou kvalitu.
Výhody:
- Snížení spotřeby materiálu a zvýšení kvality
- Adaptivní traverzní rychlost
- Technologie měření bez emisí
- Snadná adaptace ve výrobních linkách
- Přizpůsobitelné rozhraní
Parametry materiálu:
- Tloušťka fólie 30 μm až 6 mm
- Šířka fólie až 3000 mm
- Dodávka materiálu do 300 m/min
Výrobky řady FTS jsou navrženy jako systémy C- a O-rámů, vybavené extrémně přesnými kapacitními a optickými měřícími technologiemi.
The FTS 8101.EC O-frame is based on the combisensor principle equipped with non-contact capacitive sensors. The distance between sensor and film is measured with the capacitive sensor. The eddy-current sensors ensures the thickness signal by a reference measurement to a second target. The system can be integrated in the flat layer section.
Features:
- 100% non-contact measurement principle
- Resolution <0.1µm
- Adaptable traversing speed
The BTS 8101.EO O-frame is based on the combisensor principle. The system is equipped with a non-contact capacitive sensors and a Thrubeam sensor which are integrated in a traversing frame.
The eddy current sensor measures the reference distance to the measurement roll‘s metal surface. The distance from the film surface is measured by the Thrubeam sensor. Together with the reference signal the film thickness is calculated. This combisensor principle allows extreme precise measurements.
Features:
- Gap 22 mm
- Accuracy 3µm
- Material independent measurements
The FTS 8102.EC C-frame is based on the combisensor principle equipped with non-contact capacitive sensors. The distance between sensor and film is measured with the capacitive sensor. The eddy-current sensors ensures the thickness signal by a reference measurement to a second target. The system is designed as a C-frame and can be used as a traversing unit by using the linear axis.
Features:
- 100% non-contact measurement principle
- Resolution <0.1µm
- Adaptable traversing speed
