Konfokální sondy

confocalDT IFS 2407-0,1
Podrobnosti
  • Rozsah merania: 400 µm / 1,5 mm / 2,5 mm / 3,5 mm
  • Linearita max: 0,3 µm
  • Rozlíšenie max: 0,016 µm
  • Jedinečné miniatúrne snímače
  • Meranie v otvoroch
  • Robustná konštrukcia
  • Axiálne alebo radiálne vyhotovenie
Podrobnosti
  • Rozsah merania: 400 µm / 1,5 mm / 4 mm / 10 mm
  • Linearita max: 0,3 µm
  • Rozlíšenie 0,016 µm
  • Snímač v hybridnom vyhotovení
  • Puzdro z titánu
  • Zvýšený základný odstup
  • Axiálny smer merania
  • Pasívny merací systém
Podrobnosti
  • Měřící rozsah 2mm
  • Linearita max. 1 μm
  • Rozlišení 0,040 μm
  • Měření vzdálenosti a jednostranné měření tloušťky transparentních materiálů
Podrobnosti
  • Měřící rozsah 2 mm
  • Linearita max. 1 µm
  • Rozlišení 0,040 µm
  • Pro aplikace zahrnující velké množství
  • 90° čočka pro integraci do omezených prostor
Podrobnosti
  • Rozsah merania: 300 µm / 1 mm / 3 mm / 6 mm / 10 mm / 28 mm / 30 mm
  • Linearita max. 0,15 µm
  • Rozlíšenie HelpIcon max. 0,01 µm
  • Kompaktné štandardné snímače
  • Vhodné na jednostranné meranie hrúbky
  • Vhodné na prostredie s nebezpečenstvom výbuchu
Podrobnosti
  • Rozsah merania: 2,5 mm / 3 mm / 10 mm
  • Linearita max. 0,3 µm
  • Rozlíšenie HelpIcon max. 0,01 µm
  • Kompaktné štandardné snímače
  • Vhodné na jednostranné meranie hrúbky
  • Vhodné na prostredie s nebezpečenstvom výbuchu
Podrobnosti
  • Measuring range (mm): 0.3
  • Linearity: max. 0.75µm
  • Resolution: max. 10nm
  • Ideal for displacement and roughness measurements
  • Small measurement spot size: 6µm
  • High sensitivity and large tilt angle
Podrobnosti
  • Rozsah měření (mm): 0,1
  • Linearita: max. 0,05 um
  • Rozlišení: max. 3 nm
  • Ideální pro měření vzdálenosti a drsnosti
  • Senzor pro vysokorychlostní procesy (numerická apertura 0.7)
  • Malý průměr měřicího bodu: 3 µm
  • Vysoká citlivost a velký úhel náklonu
  • Měření tloušťky průhledných předmětů od 5 µm
Podrobnosti
  • Rozsah měření (mm): 3
  • Linearita: max. 0,75 um
  • Rozlišení: max. 20 nm
  • Velká ofsetová vzdálenost cca 28 mm
  • Max. úhel náklonu ± 30 °
  • Ideální pro měření na zakřivených a reflexních objektech

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
juraj.devecka@micro-epsilon.cz
+421 911 298 922
+420 381 211 060