The modular capaNCDT 62xx multi-channel system is one of the most modern capacitive systems and stands for modularity, interfaces and precision. The…
The IMS5420-TH white light interferometer opens up new perspectives in industrial thickness measurement of monocrystalline silicon wafers. Due to its…
Nový snímač tloušťky thicknessSENSOR osazený laserovými triangulačními snímači ILD1420LL nabízí ještě větší přesnost, především při měření tloušťky…
Eddy current-based inductive sensors of the eddyNCDT series are characterized by micrometer precision and high levels of performance with maximum user…