The IMS5420-TH white light interferometer opens up new perspectives in industrial thickness measurement of monocrystalline silicon wafers. Due to its broadband superluminescent diode (SLED), the IMS5420-TH can be used for undoped, doped and highly…

Nový snímač tloušťky thicknessSENSOR osazený laserovými triangulačními snímači ILD1420LL nabízí ještě větší přesnost, především při měření tloušťky kovových předmětů. Senzorový systém je připravený k okamžitému použití a umožňuje bezkontaktní měření…

Eddy current-based inductive sensors of the eddyNCDT series are characterized by micrometer precision and high levels of performance with maximum user convenience. The world’s largest range of sensors allows for a wide variety of applications in…

The draw-wire displacement sensors of the wireSENSOR MK88 and K100 series can now detect even larger measuring ranges. They are now also equipped with a CANopen interface. Draw-wire displacement sensors are used especially in the field of mobile…